温馨提示×

温馨提示×

您好，登录后才能下订单哦！

密码登录×

忘记密码？

登录注册×

获取短信验证码

其他方式登录

点击登录注册即表示同意《亿速云用户服务条款》

用户登录×

账户密码登录

请使用微信扫描上方二维码

使用帮助

请求超时！

请点击重新获取二维码

FPGA开发中如何进行可测试性设计

发布时间：2025-02-23 08:52:03 阅读：93 作者：小樊栏目：软件技术

开发者测试专用服务器限时活动，0元免费领，库存有限，领完即止！点击查看>>

在FPGA开发中进行可测试性设计是确保设计质量和可靠性的关键步骤。以下是一些关键策略和实践：

使用JTAG器件

指定和使用JTAG器件：尽可能使用支持JTAG标准的器件，因为它们提供了更大的测试覆盖范围。
检查BSDL文件：确保器件的边界扫描描述语言（BSDL）文件符合1149.x标准，并且已通过充分验证。
确保JTAG链的正确设计和布局：所有设备的TCK、TMS和（可选）NTRST信号必须并联连接在一个“菊花链”格式，避免NTRST信号直接连接到地。

统计计数和状态输出

统计计数：在设计中添加计数器，以统计关键事件的发生次数，如网络接口的包发送和接收数量、FIFO的读写帧数等。这些计数可以通过总线接口供外部处理器读出，帮助定位问题。
状态输出：使用状态机，并将状态机的状态信号（如CS信号）引出，以便在外部进行状态检查，从而定位到具体的问题模块。

逻辑复位

逻辑复位：通过逻辑复位功能，可以在怀疑某个模块出现问题时，将其复位，然后观察设计是否恢复正常，以此来定位问题模块。

硬件测试

测试准备：制定详细的测试计划文档，描述必须在DUT上执行的每一项测试。
测试执行：执行测试用例，并记录测试结果。
问题报告：检查和报告测试期间检测到的问题，并追踪问题的解决状态。
测试结束：确定测试阶段何时完成，并创建测试结果文档。

通过上述方法，可以在FPGA设计阶段就考虑到后续的测试和调试问题，从而提高设计的可测试性和可靠性。

亿速云「云服务器」，即开即用、新一代英特尔至强铂金CPU、三副本存储NVMe SSD云盘，价格低至29元/月。点击查看>>

向AI问一下细节

推荐阅读：

免责声明：本站发布的内容（图片、视频和文字）以原创、转载和分享为主，文章观点不代表本网站立场，如果涉及侵权请联系站长邮箱：is@yisu.com进行举报，并提供相关证据，一经查实，将立刻删除涉嫌侵权内容。

上一篇新闻：
FPGA开发中如何设计电路
下一篇新闻：
如何优化Switch交换机性能

猜你喜欢

AI
助
手

产品服务

地区划分

专题活动

帮助支持

关于我们

售后咨询

7*24小时在线电话：400-100-2938

7*24小时在线 QQ：800811969

关注亿速云

亿速云公众号

手机网站二维码